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TECHNOLOGY

【上潍小学堂】SIMS简介

SIMS(二次离子质谱分析仪) 是深入分析材料内部结构和组成的利器,广泛应用于半导体、材料科学和生命科学领域。 SIMS 能够提供高精度的元素和同位素分析,是一项非常重要的量测工具,无论是在实验室还是工业应用,SIMS 都能帮助人员获得更准确的数据和洞见。

AMF原子力显微镜

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