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TECHNOLOGY

【上濰小學堂】SIMS簡介

SIMS(二次離子質譜分析儀) 是深入分析材料內部結構和組成的利器，廣泛應用於半導體、材料科學和生命科學領域。SIMS 能夠提供高精度的元素和同位素分析，是一項非常重要的量測工具，無論是在實驗室還是工業應用，SIMS 都能幫助人員獲得更準確的數據和洞見。