晶圓等級: prime/ test
尺寸：4"~12"
Type: N/P
晶向: <100>/<111>
阻值: 依客戶要求(一般範圍) *若有特殊規格, 也歡迎洽詢！
晶圓類型: 拋光片/磊晶片/SOI/化合物(SiC, GaN)
客戶計畫驗證缺陷檢查設備的檢出能力，故需要具各式缺陷的晶圓片；
另客戶也要求晶圓片上的”缺陷“需有出廠的相關檢驗報告，以利進行比對。
這樣特殊需求且數量極少的晶圓片不易取得，若您有特殊的半導體晶圓材料需求，歡迎您來電或留言洽詢！
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